Contribution à l'étude de phénomènes de transport dans les couches minces de Ge0,08 Te0,92 amorphes

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Université de Rouen, Faculté des Sciences, Mont Saint-Aignant

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Abstract

Cette étude porte d’une part, sur la mesure de la conductivité d’obscurité d’alliage semiconducteur amorphe de germanium tellure (8 % at de Ge) obtenu en couches minces. Et d’autre part sur l’analyse du rôle joué par un éclairement sur la structure et la conductivité de ce matériau. A partir de ces mesures, on a déduit la position du niveau de Fermi et la largeur des états localisés du bas de la bande interdite de l’alliage. On montre que l’énergie de formation d’une paire à valence alternée est indépendante de la nature du matériau. Enfin des effets photostructuraux réversibles à base température et pour certaines longueurs d’ondes ont été observés.

Description

Keywords

Physique du solide, Semiconducteur, Germanium-tellure, Conductivité, Photoconductivité, Photoassombrissement, Défaut, Pulvérisation, Alliage amorphe, Couche mince, Réversibilté

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