Contribution à l'étude des mécanismes d'émission ionique secondaire moléculaire induite par bombardement d'ions de faible énergie (2-4 keV)

Abstract

Une étude de l’émission ionique secondaire de films moléculaires bombardés par des ions d’énergie comprise entre 2 et 4 keV a été réalisée à l’aide d’un analyseur de masse quadripolaire de gamme de masse 1-1000. Pour de nombreuses molécules organiques, le spectre de masse d’ions secondaires positifs est caractérisé par la présence d’ions moléculaires (M+H) et (M+X)+ (x = atome métallique) et d’ions fragments. Tous ces ions sont désorbés avec une énergie cinétique faible (1 eV). L’étude systématique de l’influence sur les rendements d’émission ionique secondaire des conditions de bombardements, de la nature et de la concentration des molécules, ainsi que du mode de préparation de la cible, a permis de mettre en évidence des processus de transfert de particules dans le film (atomes d’hydrogènes ou métalliques) et d’éjection d’ions préformés en surface comme (M+H)+. Les implications de ces résultats pour les applications analytiques de l’émission ionique secondaire sont discutées.