Optimisation fiabiliste en mécatronique, application à des transistors à haute puissance

Abstract

La performance et la fiabilité des systèmes mécatroniques à haute puissance dépendent de la qualité de leurs composants. Cette thèse se concentre sur les transistors à haute mobilité d'électron (HEMT), qui ont des propriétés électriques et thermiques pertinentes pour des applications industrielles variées. La modélisation électrothermomécanique des HEMT a été étudiée à l'aide de la méthode des éléments finis. L'objectif est d'optimiser leur comportement thermique et mécanique en tenant compte de différentes conditions de fonctionnement. Une méthode d'optimisation assistée par le krigeage a été proposée pour résoudre le problème d'optimisation, et une méthode hybride de conception optimale basée sur la fiabilité (RBDO) a été développée pour améliorer la performance et la fiabilité des HEMT. Les résultats montrent l'efficacité de ces méthodes pour optimiser les transistors à haute puissance.