Effets de la topographie de surface induite par impact d'ions lourds sur la spectrométrie d'électrons secondaires résolue angulairement

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dc.contributor.author	Banouni, Mostafa
dc.description.collaborator	Askénazy, S. (Président)
dc.description.collaborator	Benazeth, N. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Cottu, J.P. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Joyes, P. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Mischler, J. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Sevely, J. (Examinateur)
dc.date.accessioned	2009-01-19T14:55:24Z
dc.date.available	2009-01-19T14:55:24Z
dc.date.issued	1986-10-16
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/2509
dc.format.extent	19968 bytes
dc.format.mimetype	application/msword
dc.language.iso	fr	en
dc.publisher	Université Paul Sabatier - Toulouse III (Sciences), Toulouse	en
dc.subject	Topographie de surface	en
dc.subject	Ion lourd	en
dc.subject	Spectrométrie	en
dc.subject	Electron secondaire	en
dc.subject	Physique des solides	en
dc.title	Effets de la topographie de surface induite par impact d'ions lourds sur la spectrométrie d'électrons secondaires résolue angulairement	en

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