Toubkal : Le Catalogue National des Thèses et Mémoires
Caractérisation des défauts dans les matériaux photothermoplastiques (PVK) et photoréfractifs (GaAs)
| dc.contributor.author | El Hamd, Saïda | |
| dc.description.collaborator | Voltz, R. (Président) | |
| dc.description.collaborator | Moisan, J.Y. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Ern, V. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Tapiero, M. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Zielinger, J.P. (Examinateur) | |
| dc.date.accessioned | 2008-12-01T14:40:04Z | |
| dc.date.available | 2008-12-01T14:40:04Z | |
| dc.date.issued | 1990-01-30 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/1997 | |
| dc.format.extent | 19968 bytes | |
| dc.format.mimetype | application/msword | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Université Louis Pasteur - Strasbourg I, Strasbourg | en |
| dc.subject | Matériel photothermoplastique (PVK) | en |
| dc.subject | Matériel photoréfractif (GaAs) | en |
| dc.subject | Physique du solide | |
| dc.title | Caractérisation des défauts dans les matériaux photothermoplastiques (PVK) et photoréfractifs (GaAs) | en |
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France [1868]