GaAs & GaAs:In influence des traitements de surface et caractérisation de l'homogenéité par imagerie de la photoluminescence
| dc.contributor.author | Khoukh, Abdelaziz | |
| dc.date.accessioned | 2008-12-04T10:07:05Z | |
| dc.date.accessioned | 2025-12-09T14:13:39Z | |
| dc.date.available | 2008-12-04T10:07:05Z | |
| dc.date.issued | 1988-12-23 | |
| dc.description.collaborator | Gourre, E. (Président) | |
| dc.description.collaborator | Fa Vennec, P.N. (Examinatreur) | |
| dc.description.collaborator | Krawczyk, S.K. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Molva, E. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Wettling, W. (Examinateur) | |
| dc.description.collaborator | Viktorovitch, P. (Examinateur) | |
| dc.format.extent | 19968 bytes | |
| dc.format.mimetype | application/msword | |
| dc.identifier.uri | https://toubkalpreprod.imist.ma/handle/123456789/2055 | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Université de Lyon, Ecole Centrale, Lyon | en |
| dc.subject | Electronique | en |
| dc.subject | GaAs | en |
| dc.subject | Homogenéité | en |
| dc.subject | Photoluminescence | en |
| dc.title | GaAs & GaAs:In influence des traitements de surface et caractérisation de l'homogenéité par imagerie de la photoluminescence | en |