Quantification bidimensionnelle dans les semi-conducteurs : Application aux superréseaux HgTe-CdTe

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dc.contributor.authorNafidi, Abdelhakim
dc.date.accessioned2008-12-31T12:08:32Z
dc.date.accessioned2025-12-09T14:15:20Z
dc.date.available2008-12-31T12:08:32Z
dc.date.issued1987-07-01
dc.description.collaboratorGodefroy, L. (Président)
dc.description.collaboratorHage-Ali, M. (Examinateur)
dc.description.collaboratorPauty, M. (Examinateur)
dc.description.collaboratorThuillier, J.C. (Examinateur)
dc.description.laboratoireSciences et techniques, (UFR)
dc.description.laboratoirePhysique du solide associée au C.N.R.S, (LAB.)
dc.format.extent19968 bytes
dc.format.mimetypeapplication/msword
dc.identifier.urihttps://toubkalpreprod.imist.ma/handle/123456789/2313
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité de Bourgogne, Dijonen
dc.subjectElectroniqueen
dc.subjectOptique des matériauxen
dc.subjectQuantification bidimensionnelleen
dc.subjectSemi-conducteuren
dc.subjectSuperréseauen
dc.subjectHgTe-CdTeen
dc.titleQuantification bidimensionnelle dans les semi-conducteurs : Application aux superréseaux HgTe-CdTeen

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