Effets de la topographie de surface induite par impact d'ions lourds sur la spectrométrie d'électrons secondaires résolue angulairement

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dc.contributor.authorBanouni, Mostafa
dc.date.accessioned2009-01-19T14:55:24Z
dc.date.accessioned2025-12-09T14:16:40Z
dc.date.available2009-01-19T14:55:24Z
dc.date.issued1986-10-16
dc.description.collaboratorAskénazy, S. (Président)
dc.description.collaboratorBenazeth, N. (Examinateur)
dc.description.collaboratorCottu, J.P. (Examinateur)
dc.description.collaboratorJoyes, P. (Examinateur)
dc.description.collaboratorMischler, J. (Examinateur)
dc.description.collaboratorSevely, J. (Examinateur)
dc.format.extent19968 bytes
dc.format.mimetypeapplication/msword
dc.identifier.urihttps://toubkalpreprod.imist.ma/handle/123456789/2509
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité Paul Sabatier - Toulouse III (Sciences), Toulouseen
dc.subjectTopographie de surfaceen
dc.subjectIon lourden
dc.subjectSpectrométrieen
dc.subjectElectron secondaireen
dc.subjectPhysique des solidesen
dc.titleEffets de la topographie de surface induite par impact d'ions lourds sur la spectrométrie d'électrons secondaires résolue angulairementen

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