Compatibilité Electromagnétique des Circuits Electroniques Microondes : Approche Théorique et Validation par des Mesures Expérimentales

dc.contributor.advisorKabbaj Hassane
dc.contributor.authorIlham ZERROUK
dc.date.accessioned2026-09-21T14:35:30Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractLes exigences de la compatibilité électromagnétique (CEM) pour les circuits microondes sont de plus en plus sévères et imposent aux industriels de nouvelles contraintes de conception. Afin de réaliser des circuits électroniques plus denses et plus performants, il s’agit d’une part, à faire cohabiter plusieurs types de composants sur des surfaces plus petites et, de surcroît, fonctionnant à des fréquences de plus en plus élevées. D’autre part, il est intéressant de développer des modèles capables de protéger ces composants contre les effets des agressions électromagnétiques. Cependant, cette cohabitation pourrait générer des problèmes de CEM. Ainsi, le spectre électromagnétique prépondérant et diversifié engendre le dysfonctionnement voir la détérioration des circuits électroniques avoisinant. De plus, les circuits électroniques microondes deviennent de plus en plus rapides à cause des bandes de fréquences de plus en plus élargies. L’analyse fréquentielle seule ne peut répondre à un certain nombre d’interrogations dans ces circuits. Une analyse temporelle devient nécessaire pour résoudre et répondre à toutes les problématiques avec une haute précision. Dans cette perspective, les travaux présentés dans ce mémoire s’inscrit dans le cadre des études en compatibilité électromagnétique CEM des circuits électroniques microondes non linéaires complexes. Ils abordent la problématique de la CEM des circuits microondes au travers de la modélisation des champs électromagnétiques incidents sur une large bande de fréquence, ainsi que certains effets liés à l’apparition de tensions de couplage. L’objectif est donc d’étudier théoriquement et expérimentalement, l’influence des ondes électromagnétiques externes sur des circuits et des composants utilisés dans le domaine des microondes. La méthode de calcul adoptée est la différence finie dans le domaine temporel (FDTD) pour ses performances indiscutables dans ce domaine. La validation des modèles proposés est effectuée à travers des mesures expérimentales réalisées dans la cellule GTEM (Giga Hertz Transverse Electromagnetic) mais aussi par le logiciel commercial PSpice (Cadence 16.6).
dc.description.cedocSciences et Techniques et Sciences Médicales
dc.description.collaboratorEl Hammoumi Mohammed
dc.description.collaboratorDescamps Philippe
dc.description.collaboratorElouazzani Nabih
dc.description.collaboratorGhammaz Abdelilah
dc.description.collaboratorRamdani Mohammed
dc.description.collaboratorTahri Driss
dc.description.collaboratorKabbaj Hassane
dc.description.laboratoireSignaux, Systèmes et Composants
dc.identifier.urihttps://toubkal.imist.ma/handle/123456789/37639
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.83129/toubkal-27383
dc.language.isofr
dc.publisherFaculté des Sciences et Techniques - Fèsfr_FR
dc.subjectCompatibilité électromagnétique (CEM)fr_FR
dc.subjectCircuits microondesfr_FR
dc.subjectcouplage électromagnétique fr_FR
dc.subjectOnde planefr_FR
dc.subjectchamp prochefr_FR
dc.subjectFinite Difference in the Time Domain (FDTD)fr_FR
dc.titleCompatibilité Electromagnétique des Circuits Electroniques Microondes : Approche Théorique et Validation par des Mesures Expérimentalesfr_FR

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