Etude critique de l'analyse des structures fines observées en SEELFS : Application au seuil M₂₃ du Nickel face (111)

Abstract

Le premier chapitre rappelle les principes du SEELFS et ses liens avec l’EXAFS et le SEXAFS, ainsi que les difficultés spécifiques du traitement des spectres SEELFS. Pour la première fois, le chapitre II établit le véritable lien entre les signaux SEELFS acquis en mode dérivée première ou seconde par rapport à l’énergie, et distribution radiale F (R). Le rôle et l’influence des divers traitements numériques effectués pour obtenir F(R) sont ensuite analysés en détail. On arrive à la conclusion qu’ils peuvent être parfaitement maîtrisés. Dans le chapitre II la procédure de traitement mise au point est appliquée à deux spectres SEELFS associés au seuil M₂₃ de Ni(111). On parvient à une fonction R²F(R) mieux résolue que celles publiées auparavant. Les raisons de la mauvaise qualité des résultats antérieurs sont mises en évidence. Toutefois, la position obtenue pour la première couche d’atomes est près de 1 Å en-dessous de la position attendue. Cette conclusion, masquée dans les travaux antérieurs par la confusion délibérée entre les fonctions F(R) et R²F(R), relance le débat sur la validité de l’approximation qui consiste à utiliser les déphasages des seuils L₂₃ pour interpréter les seuils M₂₃. La maîtrise acquise dans le traitement des spectres de type EXAFS est illustrée dans le chapitre IV sur le seuil K de Ni(111), observé en SEXAFS. La fonction F(R) obtenue permet d’identifier les positions des neuf premières couches, avec un décalage voisin de celui prédit par les tables de Teo et Lee.