Contribution à l'étude des contraintes à Contribution à l'étude des contraintes à l'interface ceramo -métallique Ni - Cr (Mo, Si ) / SiO₂-A₂O₃-K₂O : Influence des conditions de récultes et de dépôts multiples

dc.contributor.authorEl Ikhloufi, Ahmed
dc.date.accessioned2008-11-26T15:43:29Z
dc.date.accessioned2025-12-09T14:16:16Z
dc.date.available2008-11-26T15:43:29Z
dc.date.issued1986-05-30
dc.description.abstractLe mémoire est relatif à l’étude des contraintes résiduelles interfaciales d’un complexe céramo-métallique Ni-Cr (Mo,Si) / SiO2A12O3K2O. La méthode de détermination de contraintes par diffraction X a permis de suivre l’évolution des contraintes à l’interface céramo-métallique au cours de traitements recuit et de dépôt. Les contraintes les plus faibles qui correspondent à la résistance mécanique de la céramique la meilleur ont été obtenu sur les infrastructures métalliques ayant subi au préalable un polissage électrolytique suivie d’une préoxydation. La microscopie électronique a mis an évidence une couche de quartz sur les échantillons siliciés, cette couche contribue favorablement à la tenue du complexe. Enfin on a tenté d’établir une correspondance entre les contraintes déterminées par diffraction X et les figures d’indentations de la céramique.
dc.description.collaboratorDabosi, F. (Président)
dc.description.collaboratorLebrun, J.L. (Rapporteur)
dc.description.collaboratorLavelle, B. (Membre)
dc.description.collaboratorMustel, W. (Membre)
dc.description.collaboratorPernot, F. (Membre)
dc.format.extent19968 bytes
dc.format.mimetypeapplication/msword
dc.identifier.urihttps://toubkalpreprod.imist.ma/handle/123456789/1925
dc.language.isofren
dc.publisherInstitut National Polytechnique, Toulouseen
dc.subjectContrainte résiduelleen
dc.subjectInterfaceen
dc.subjectComplexe céramo-métalliqueen
dc.subjectIndentationen
dc.subjectDiffraction Xen
dc.subjectMicroscopie électroniqueen
dc.titleContribution à l'étude des contraintes à Contribution à l'étude des contraintes à l'interface ceramo -métallique Ni - Cr (Mo, Si ) / SiO₂-A₂O₃-K₂O : Influence des conditions de récultes et de dépôts multiplesen

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