Préparation et propriétés physiques de couches minces de conducteurs organiques

Abstract

Une méthode de dépôt de couches minces de conducteurs organiques par évaporation a été mise au point. La caractérisation de ces couches minces de complexes à transfert de charge (TTF-TCNQ) et de sels d’ions-radicaux (TMTTF₂-X) a été microscopie électronique. L’étude expérimentale par résonance paramagnétique électronique et la simulation numérique de ces spectres de résonance ont permis de déterminer l’angle d’orientation moyen des cristallites dans une couche donnée afin de caractériser son degré d’épitaxie. Enfin, l’étude de la conductivité électrique en fonction de la température et de la pression a permis de montrer que ces couches minces présentent un effet piézorésistif important laissant envisager une application possible comme jauge piézorésistive.