Etude expérimentale de l'ionisation par impact électronique des ions Arq+ (q=7 à 10) et des ions heliumoïdes C4+ et O6+

dc.contributor.authorRachafi El Hausi, Mohamed Saïd
dc.date.accessioned2009-04-09T09:52:39Z
dc.date.accessioned2025-12-09T14:54:47Z
dc.date.available2009-04-09T09:52:39Z
dc.date.issued1988-06
dc.description.laboratoirePhysique, (Départ.)
dc.format.extent19968 bytes
dc.format.mimetypeapplication/msword
dc.identifier.urihttps://toubkal.imist.ma/handle/123456789/2555
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.83129/toubkal-4042
dc.language.isofren
dc.publisherUniversité Catholique de Louvain, Faculté des Sciences, Louvain-la-Neuveen
dc.subjectEtude expérimentaleen
dc.subjectIonisationen
dc.subjectImpact électroniqueen
dc.subjectIon Arq+ (q=7 à 10)en
dc.subjectIon heliumoïde c4+ et O6+en
dc.titleEtude expérimentale de l'ionisation par impact électronique des ions Arq+ (q=7 à 10) et des ions heliumoïdes C4+ et O6+en

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