Utilisation du modèle exponentiel de mobilité effective pour la caractérisation de la rugosité de surface et des résistances séries dans les transistors MOS à canal très court - El Abbassi, Ahmed (Université Chouaib Doukkali, Faculté des Sciences, El Jadida, 2002)
Keywords: Sciences physiques; Microélectronique; Modèle exponentiel; Mobilité effective; Rugosité de surface; Transistor MOS