Toubkal : Le Catalogue National des Thèses et Mémoires
Utilisation du modèle exponentiel de mobilité effective pour la caractérisation de la rugosité de surface et des résistances séries dans les transistors MOS à canal très court
| Title: | Utilisation du modèle exponentiel de mobilité effective pour la caractérisation de la rugosité de surface et des résistances séries dans les transistors MOS à canal très court |
| Author: | El Abbassi, Ahmed |
| Date: | 2002-07-13 |
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