Toubkal : Le Catalogue National des Thèses et Mémoires
Tomographie laser à balayage : Application au test de qualification des semi-conducteurs
| dc.contributor.author | Baroudi, Ahmed | |
| dc.description.collaborator | Savelli, M. (Président) | |
| dc.description.collaborator | Verdone, M. (Jury) | |
| dc.description.collaborator | Fillard, J.P. (Jury) | |
| dc.description.collaborator | Journeau, G. (Jury) | |
| dc.description.collaborator | Van Rossum, M. (Jury) | |
| dc.description.collaborator | Froelicher, M. (Jury) | |
| dc.date.accessioned | 2009-05-18T10:43:54Z | |
| dc.date.available | 2009-05-18T10:43:54Z | |
| dc.date.issued | 1989-05-25 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/2997 | |
| dc.description.abstract | La tomographie laser à balayage est une nouvelle technique non destructive d’imagerie numérique. Elle est ici appliquée avec succès à l’inspection à trois dimensions des défauts dans différents matériaux semi-conducteurs. L’auteur présente une réalisation d’un prototype de tomographie, et quelques résultats typiques d’analyse sur les composés III-V, le silicium et CdTe, obtenus avec cet instrument informatisé. | en |
| dc.format.extent | 19968 bytes | |
| dc.format.mimetype | application/msword | |
| dc.language.iso | fr | en |
| dc.publisher | Académie de Montpellier, Université Montpellier II des Sciences et Techniques du Languedoc, Montpellier | en |
| dc.subject | Composant | en |
| dc.subject | Signaux | en |
| dc.subject | Système | en |
| dc.subject | Informatique industrielle | en |
| dc.subject | Tomographie laser | en |
| dc.subject | Traitement d'image | en |
| dc.subject | Contraste | en |
| dc.subject | Banque d'image | en |
| dc.subject | Haute résolution | en |
| dc.subject | Microscopie | en |
| dc.subject | Microprecipité | en |
| dc.subject | Silicium | en |
| dc.subject | Composé III-V | en |
| dc.title | Tomographie laser à balayage : Application au test de qualification des semi-conducteurs | en |
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France [1868]