Etude du joint de grains ∑=9 dans le Silicium parfait, déformé et recuit par microscopie électronique à haute résolution

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Etude du joint de grains ∑=9 dans le Silicium parfait, déformé et recuit par microscopie électronique à haute résolution

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Title: Etude du joint de grains ∑=9 dans le Silicium parfait, déformé et recuit par microscopie électronique à haute résolution
Author: El kajbaji, Mohamed
Abstract: La structure du joint de macle parfait Σ = 9 (122) dans le silicium (structure cubique diamant) a été déterminée grâce à la microscopie électronique à haute résolution. Les mécanismes d’interaction joint de grains dislocations lors de la déformation du bicristal ont été étudiés : il a été mis en évidence que les dislocations se dissocient en entrant dans le joint, perdent leur identité et que les résidus interagissent entre eux. Les mécanismes font intervenir de la montée dans le joint. Les structures des dislocations résiduelles les plus fréquentes ont été déterminées. Le recuit du bicristal déforme ou non fait naître parfois des précipités qui ont été aussi étudiés
Date: 1986-09-23

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