GaAs & GaAs:In influence des traitements de surface et caractérisation de l'homogenéité par imagerie de la photoluminescence

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dc.contributor.author	Khoukh, Abdelaziz
dc.description.collaborator	Gourre, E. (Président)
dc.description.collaborator	Fa Vennec, P.N. (Examinatreur)
dc.description.collaborator	Krawczyk, S.K. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Molva, E. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Wettling, W. (Examinateur)
dc.description.collaborator	Viktorovitch, P. (Examinateur)
dc.date.accessioned	2008-12-04T10:07:05Z
dc.date.available	2008-12-04T10:07:05Z
dc.date.issued	1988-12-23
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/123456789/2055
dc.format.extent	19968 bytes
dc.format.mimetype	application/msword
dc.language.iso	fr	en
dc.publisher	Université de Lyon, Ecole Centrale, Lyon	en
dc.subject	Electronique	en
dc.subject	GaAs	en
dc.subject	Homogenéité	en
dc.subject	Photoluminescence	en
dc.title	GaAs & GaAs:In influence des traitements de surface et caractérisation de l'homogenéité par imagerie de la photoluminescence	en

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